金屬涂層測厚儀由蘇州實譜信息科技有限公司生產(chǎn)銷售,Thick-880型X熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。
Thick-880型X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術等行業(yè)技術研究開發(fā)及生產(chǎn)技術人員，依靠科學研究，結多年的現(xiàn)場應用實踐經(jīng)驗，結合的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的Thick-880型X熒光鍍層測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優(yōu)點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

X射線膜厚儀特點：
1．儀器外觀選用的流線型設計，時尚雅致。
2．同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。
3．可以分析多5層鍍層，一次可分析元素多達24種。
4．無需復雜的樣品預處理過程，無損測試。
5．檢出限可達到2ppm。
6．分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。
7．采用美國原裝、國際的探測器，能量分辨率高。
8．采用美國原裝、國際的AMP，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠。
9．X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示。
10．采用彩色攝像頭，準確觀察拍攝樣品。
11．采用電動無極控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便。
12．采用雙激光對焦系統(tǒng)，準確定位測量位置。
13．高度傳感器。
14．保護傳感器，有效保護探測器。
15．度高，穩(wěn)定性好，故障率低。
16．輻射安全系統(tǒng)：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線防護系統(tǒng)多層屏蔽保護，輻射安全性可靠。
17．WINDOWSXP中文應用軟件，的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便。