薄膜/紙張厚度表

價格
電議

型號
薄膜/紙張厚度表

品牌
XF802-P30

所在地
暫無

更新時間
2024-08-05 12:31:45

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      XF802-P30厚度表用來測量薄膜，紙張，塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用，測量表面處理后的表面粗糙度。
    執(zhí)行標準: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

     

    技術指標：

    儀器型號

       XF802-P30

    測量范圍

       0-1000 μm

    顯  示

       1 μm

    儀器尺寸

       125*95*25 mm

    重       量

       270 g

    裝  箱  單

       SP300主機, 說明書和合格證


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