供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡

價(jià)格
電議

型號
S-3400N

品牌
日本日立

所在地
暫無

更新時(shí)間
2024-10-21 10:02:00

瀏覽次數(shù)

    S--3400N掃描電子顯微鏡 S-3400N具有*開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動化功能,操作更簡易。 特點(diǎn): 1. S-3400N具有強(qiáng)大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kV低加速電壓時(shí)保證有10nm的分辨率。

    S--3400N掃描電子顯微鏡

    S-3400N具有*開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動化功能,操作更簡易。


    特點(diǎn):


    1. S-3400N具有強(qiáng)大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、
    自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。


    2. 在3kV低加速電壓時(shí)保證有10nm的分辨率。


    3. *5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。


    4. S-3400N II型具有五軸馬達(dá)臺,傾斜角度可達(dá)-20度~+90度,樣品*可達(dá)80mm。


    5. 分析樣品倉可以同時(shí)安裝EDX , WDX 及EBSD。


    6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵,潔凈、高效。


    技術(shù)指標(biāo):


    項(xiàng)目 描述
    SE分辨率 3.0nm (30kV),高真空模式
    10nm (3kV) 高真空模式
    BSE分辨率 4.0nm (30kV),低真空模式
    放大倍率 x5 ~ x300000
    加速電壓 0.3 ~ 30 kV
    低真空范圍 6 ~ 270 Pa
    *樣品尺寸 直徑200mm
    樣品臺 I型 II型
    X 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm
    Y 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm
    Z 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm
    R 360o 360o
    T -20o~ +90o -20o ~ +90o
    *樣品高度 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)
    驅(qū)動類型 手動 五軸馬達(dá)驅(qū)動
    燈絲 預(yù)對中鎢燈絲
    物鏡光欄 可移動式4孔物鏡光欄
    槍偏壓 固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
    檢測器 二次電子檢測器
    高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器
    分析位置 WD=10mm TOA=35o
    控制 鼠標(biāo)、鍵盤,手動旋鈕
    自動調(diào)校 自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、自動合軸、自動聚焦
    消像散、自動亮度對比度


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