涂層測厚儀

價格
電議

型號
4100涂層測厚儀

品牌
德國EPK

所在地
暫無

更新時間
2019-11-22 16:39:13

瀏覽次數(shù)

    德國EPK(Elektrophysik)公司

    EPK4100涂層測厚儀特點:

      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。

    EPK4100涂層測厚儀技術(shù)特征:

    型號1100210031004100
    MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
    應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))111099
    每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設(shè)寬容度極限值)1500
    可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)1
    數(shù)據(jù)量100001000010000
    MINITEST統(tǒng)計計算功能
    讀數(shù)的六種統(tǒng)計值xsnmaxminkvar
    讀數(shù)的八種統(tǒng)計值xsnmaxminkvarCpCpk
    組統(tǒng)計值六種xsnmaxminkvar
    組統(tǒng)計值八種xsnmaxminkvarCpCpk
    存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
    分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
    顯示并打印測量值、打印的日期和時間
    其他功能
    設(shè)置極限值
    連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別大小值
    連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
    連續(xù)測量模式中顯示小值

    EPK4100涂層測厚儀可選探頭參數(shù):

      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
    形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

    探頭

    量程

    低端
    分辨率

    誤差

    小曲率半徑
    (凸/凹)

    小測量
    區(qū)域直徑

    小基
    體厚度

    探頭尺寸



    應(yīng)

    F05

    0-500μm

    0.1μm

    ±(1%±0.7μm)

    1/5mm

    3mm

    0.2mm

    φ15x62mm

    F1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170mm

    F2/90

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170mm

    F3

    0-3000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F10

    0-10mm

    5μm

    ±(1%±10μm)

    5/16mm

    20mm

    1mm

    φ25x46mm

    F20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±10μm)

    10/30mm

    40mm

    2mm

    φ40x66mm

    F50

    0-50mm

    10μm

    ±(3%±50μm)

    50/200mm

    300mm

    2mm

    φ45x70mm


    FN1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm/N50μm

    φ15x62mm

    FN1.6P

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    30mm

    F0.5mm/N50μm

    φ21x89mm

    FN2

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm/N50μm

    φ15x62mm




    N02

    0-200μm

    0.1μm

    ±(1%±0.5μm)

    1/10mm

    2mm

    50μm

    φ16x70mm

    N.08Cr

    0-80μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    2.5mm

    2mm

    100μm

    φ15x62mm

    N1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    2mm

    50μm

    φ15x62mm

    N1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/10mm

    5mm

    50μm

    φ13x13x170mm

    N2

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    50μm

    φ15x62mm

    N2/90

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面/10mm

    5mm

    50μm

    φ13x13x170mm

    N10

    0-10mm

    10μm

    ±(1%±25μm)

    25/100mm

    50mm

    50μm

    φ60x50mm

    N20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±50μm)

    25/100mm

    70mm

    50μm

    φ65x75mm

    N100

    0-100mm

    100μm

    ±(1%±0.3mm)

    100mm/平面

    200mm

    50μm

    φ126x155mm

    CN02

    10-200μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    7mm

    無限制

    φ17x80mm

      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

    EPK4100涂層測厚儀探頭

    FN1.6
    0~1600μmφ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    FN1.6P
    0~1600μmφ30mm
    兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
    FN2
    0~2000μmφ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
    F05
    0~500μmφ3mm
    磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
    量程低端分辨宰很高(O.1μm)
    F1.6
    0~1600μmφ5mm
    磁性測頭
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    F3
    0~3000μmφ5mm
    磁性測頭
    可用于較厚的覆層
    F1.6/90
    0~1600μmφ5mm
    90度磁性測頭
    尤其適合于在管內(nèi)壁測量
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    F2/90
    0~2000μmφ5mm
    90度磁性測頭
    尤其適合于在管內(nèi)壁測量
    F10
    0~10mmφ20mm
    適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
    如玻璃、塑膠、混凝土等
    F20
    0~20mmφ40mm
    適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
    如玻璃、塑膠、混凝土等
    F50
    0~50mmφ300mm
    適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
    N02
    0~200μmφ2mm
    非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    N0.8Cr
    0~80μmφ2mm
    適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
    N1.6
    0~1600μmφ2mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    N2
    0~2000μmφ5mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    N1.6/90
    0~1600μmφ5mm
    磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
    尤其適合在管內(nèi)壁測量
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    N2/90
    0~2000μmφ5mm
    磁性測頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測量
    N10
    0~10mmφ50mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
    N20
    0~20mmφ70mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
    N100
    0~100mm200mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
    CN02
    10~200μmφ7mm
    用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
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