天瑞儀器股份有限公司是一家研發(fā)、生產(chǎn)X熒光鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀，手持式光譜儀，手持式合金分析儀，氣相質(zhì)譜儀,液相質(zhì)譜儀，ROHS測(cè)試儀，電感耦合等離子發(fā)射光譜儀，等離子體質(zhì)譜儀,手持式不銹鋼材質(zhì)檢測(cè)光譜儀,鍍層膜厚測(cè)試儀，X熒光測(cè)厚儀的廠家，分析儀器上市公司，公司坐落于江蘇省蘇州市昆山市，歡迎廣大客戶前來參觀考察。

應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
X-RAY金鎳測(cè)厚儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測(cè)樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護(hù)測(cè)試窗口不被樣品撞擊。

X-RAY金鎳測(cè)厚儀：Thick800A
測(cè)定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線
第二步：確定測(cè)試時(shí)間：40S
第三步：測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差

X-RAY金鎳測(cè)厚儀特點(diǎn)
1.上照式
2.高分辨率探測(cè)器
3.鼠位測(cè)試點(diǎn)
4.測(cè)試組件可升降
5.可視化操作
6良好的射線屛蔽
7.高格度移動(dòng)平臺(tái)
8.自動(dòng)定位高度
9.大樣品腔
10 .小孔準(zhǔn)直器
11.自動(dòng)尋找光斑
12.測(cè)試防護(hù)

X-RAY金鎳測(cè)厚儀注意事項(xiàng)
開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。
向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染X光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
樣品蓋需要經(jīng)常用酒精棉球清潔。
每次開機(jī)后，儀器都必須先預(yù)熱30分鐘，然后進(jìn)行初始化，方可進(jìn)行正常的檢測(cè)工作。
測(cè)量不同類型的樣品時(shí)，需從程序欄中選擇其對(duì)應(yīng)的選項(xiàng)，才能保證的測(cè)量效果。
為使儀器能長(zhǎng)期保持工作正常，需定期對(duì)儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，并進(jìn)行調(diào)整。