x射線光譜分析儀EDX4500H產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置

x射線光譜分析儀EDX4500H是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點(diǎn)
薄窗X光管
數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，準(zhǔn)度更高，在合金檢測(cè)中效果更好
FAST-SDD探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增大效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
標(biāo)準(zhǔn)配置
薄窗X光管
FAST-SDD探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）