金屬涂層測(cè)厚儀由蘇州實(shí)譜信息科技有限公司生產(chǎn)銷(xiāo)售,Thick-880型X熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。
Thick-880型X熒光鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào)；經(jīng)過(guò)模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；計(jì)算機(jī)獨(dú)有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過(guò)數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。

它能檢測(cè)出常見(jiàn)金屬鍍層厚度，無(wú)需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

我公司集中了國(guó)內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠科學(xué)研究，結(jié)多年的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合的特色，開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出的Thick-880型X熒光鍍層測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。

X射線膜厚儀特點(diǎn)：
1．儀器外觀選用的流線型設(shè)計(jì)，時(shí)尚雅致。
2．同時(shí)分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。
3．可以分析多5層鍍層，一次可分析元素多達(dá)24種。
4．無(wú)需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過(guò)程，無(wú)損測(cè)試。
5．檢出限可達(dá)到2ppm。
6．分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。
7．采用美國(guó)原裝、國(guó)際的探測(cè)器，能量分辨率高。
8．采用美國(guó)原裝、國(guó)際的AMP，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠。
9．X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測(cè)試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示。
10．采用彩色攝像頭，準(zhǔn)確觀察拍攝樣品。
11．采用電動(dòng)無(wú)極控制樣品平臺(tái)，可以進(jìn)行X-Y-Z的移動(dòng)，準(zhǔn)確方便。
12．采用雙激光對(duì)焦系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位測(cè)量位置。
13．高度傳感器。
14．保護(hù)傳感器，有效保護(hù)探測(cè)器。
15．度高，穩(wěn)定性好，故障率低。
16．輻射安全系統(tǒng)：隱蔽式設(shè)計(jì)、軟件、硬件三重射線防護(hù)系統(tǒng)多層屏蔽保護(hù)，輻射安全性可靠。
17．WINDOWSXP中文應(yīng)用軟件，的分析方法，完備強(qiáng)大的功能，操作簡(jiǎn)單，使用方便。