能量色散X熒光光譜儀

價(jià)格
電議

型號
EDX4500H

品牌
江蘇天瑞儀器股份有限公司

所在地
暫無

更新時(shí)間
2020-05-12 10:58:12

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    能量色散X熒光光譜儀EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

    能量色散X熒光光譜儀產(chǎn)品介紹

    能量色散X熒光光譜儀EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
    該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

    性能特點(diǎn)

    高效薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際水平
    新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
    SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
    低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
    智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍
    自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
    高信噪比的電子線路單元
    針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
    解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
    多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
    內(nèi)置高清晰攝像頭
    液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

    技術(shù)參數(shù)

    產(chǎn)品型號：EDX 4500H
    產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
    測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
    元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
    同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
    測量時(shí)間：30秒-200秒
    探測器能量分辨率為：145±5eV
    管壓：5KV-50KV
    管流：50μA-1000μA
    測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
    輸入電壓：AC 110V/220V
    環(huán)境溫度：15℃-30℃
    環(huán)境濕度：35%-70%
    樣品腔體積：320mm×100mm
    外形尺寸：660mm×510mm×350mm
    重量：65Kg

    標(biāo)準(zhǔn)配置

    高效薄窗X光管
    SDD硅漂移探測器
    數(shù)字多道技術(shù)
    光路增強(qiáng)系統(tǒng)
    高信噪比電子線路單元
    內(nèi)置高清晰攝像頭
    自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
    自動穩(wěn)譜裝置
    三重安全保護(hù)模式
    可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
    90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
    真空泵

    應(yīng)用領(lǐng)域

    合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
    以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，儀器儀表交易網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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