飛機(jī)在強(qiáng)對(duì)流天氣飛行時(shí)，容易受到雷電的直接附著作用，產(chǎn)生高溫、高壓和強(qiáng)電磁力，對(duì)飛機(jī)造成燃燒、溶蝕、爆炸、結(jié)構(gòu)畸變和強(qiáng)度降低等效應(yīng)。我司研發(fā)的雷電直接效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是一套非常復(fù)雜的脈沖電源測(cè)試系統(tǒng)，主要用于系統(tǒng)級(jí)雷電直接效應(yīng)試驗(yàn)以及對(duì)部件材料等進(jìn)行雷電試驗(yàn)，完全符合GJB1389A，GJB3567等國(guó)軍標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)也美國(guó)軍標(biāo)MIL-STD-464C、航空系統(tǒng)SAE ARP5412、DO160 section23等飛機(jī)雷電試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求?？蓱?yīng)用于飛機(jī)整機(jī)、航空航天材料、艦船、導(dǎo)彈、車輛、雷達(dá)等設(shè)備設(shè)施。
本套雷電直接效應(yīng)試驗(yàn)系統(tǒng)包括高電壓附著點(diǎn)分區(qū)試驗(yàn)系統(tǒng)和大電流物理?yè)p毀試驗(yàn)系統(tǒng)。高電壓附著點(diǎn)分區(qū)試驗(yàn)系統(tǒng)可模擬測(cè)試飛機(jī)等設(shè)備在遭受雷擊時(shí)，在飛機(jī)表面不同區(qū)域可能被雷電襲擊的概率，找到容易被雷電襲擊的附著點(diǎn)。大電流物理?yè)p毀試驗(yàn)系統(tǒng)用來模擬飛機(jī)在遭受雷擊時(shí)，其附著點(diǎn)遭受大電流時(shí)產(chǎn)生的高溫、強(qiáng)電動(dòng)力對(duì)飛機(jī)結(jié)構(gòu)等部分的破壞效應(yīng)。

雷電直接效應(yīng)試驗(yàn)流程：

本套系統(tǒng)可根據(jù)用戶實(shí)際測(cè)試需求進(jìn)行按需配置，可提供全套的測(cè)試解決方案

波形參數(shù)的定義:

根據(jù)MIL-STD-464C及SAE ARP5412等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，測(cè)試波形主要有A、B、C、D四個(gè)電壓波形，如下圖所示。

圖 飛機(jī)高電壓試驗(yàn)波形

具體要求：

A波形，電壓波形A為一個(gè)上升斜率為1000（-0+50%）kV/μs的波形，其幅值的增加直到試驗(yàn)件擊穿或者閃絡(luò)終止，并迅速歸零，如果試驗(yàn)件沒有閃絡(luò)，則波形的跌落沒有規(guī)定。

B波形，電壓波形B為一個(gè)上升斜率為1.2μs（±20%）、持續(xù)時(shí)間為50μs（±20%）的開路電壓波形。

C波形，電壓波形C為在2us處截?cái)嗟碾妷翰ㄐ?，?duì)于上升時(shí)間和峰值沒有特殊要求。

D波形，電壓波形D為一個(gè)上升斜率為50-250μs、持續(xù)時(shí)間大于2000μs的開路電壓波形。該波形用于試驗(yàn)件的流光特性分析，當(dāng)使用該波形進(jìn)行雷擊附著區(qū)概率分析時(shí)，得出的結(jié)論要比實(shí)際高（見GJB3567 5.1.1.3）

飛機(jī)雷電高壓附著點(diǎn)分區(qū)試驗(yàn)示意圖：