概要： 自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A。在測量精度、操作性能、軟件上有新的優(yōu)化。 通過自動定位功能，只需把樣品放在樣品臺上，便能在數(shù)秒內(nèi)自動對準(zhǔn)觀察樣品焦點(diǎn)，省略了以前手動逐次對焦的操作，大幅提高了測量效果。 型號名稱：FT-110A 測量元素：原子序數(shù)22（Ti）~83（Bi） 檢測器：比例計(jì)數(shù)管 X射線管：管電壓：50kV 管電流：1mA 準(zhǔn)直器：4種（Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm） 樣品觀察：CCD攝像頭（可進(jìn)行廣域觀察） X-Ray Station：電腦、19英寸液晶顯示器 膜厚測量軟件：薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法 測量功能：自動測量、中心搜索 定性功能：KL標(biāo)記、比較表示 使用電源：220V/7.5A 特長： 1.自動對焦功能 自動接近功能 在樣品臺上放置各種高度的樣品時(shí)，只要高低差在80mm范圍內(nèi)，即可在3秒內(nèi)自動對焦被測樣品。由此進(jìn)一步提高定位操作的便捷性。 自動對焦功能 簡便的攝像頭對焦 自動接近功能 適合位置的對焦 2.通過新 薄膜FP法提高測量精度 實(shí)現(xiàn)微小光束的高靈敏度，通過微小準(zhǔn)直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時(shí)間比本公司原有機(jī)型縮短了1/2。另外，針對檢測器的特性開發(fā)了新的EP法，可進(jìn)行無標(biāo)樣測量。測量結(jié)果可一鍵生成報(bào)告書，簡單方便。 新 薄膜EP法 減少檢量線制作的繁瑣程度、實(shí)現(xiàn)了設(shè)定測量條件的簡易化 無標(biāo)樣測量方法可進(jìn)行多5層的膜厚測量 自動對焦功能和距離修正功能 凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進(jìn)行測量 靈敏度提高 鍍層測量時(shí)間比本公司原有機(jī)型縮短了1/2 生成報(bào)告功能 一鍵生成測量報(bào)告書 3.廣域樣品觀察 對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態(tài)畫面后，可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置。由此，可大幅減少多數(shù)測量點(diǎn)位置的選取時(shí)間，以及在圖像上難以尋找的特定點(diǎn)位置的選定時(shí)間。 廣域圖像觀察 輕松定位