Climate TEM 原位氣相加熱方案

01 產(chǎn)品概況

Climate TEM 原位氣相加熱方案主要是為催化、納米材料生長和腐蝕等科學(xué)領(lǐng)域的研究人員而設(shè)計(jì)的。是當(dāng)前市場上*支持結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息完全動態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統(tǒng)。與專有的 DENS 氣體分析儀集成組合使用，可進(jìn)行反應(yīng)產(chǎn)物分析。能夠在 2 bar 的氣體環(huán)境中進(jìn)行高達(dá) 1000℃ 的高溫實(shí)驗(yàn)，并保持 TEM 的原子分辨率。這是市面上許多環(huán)境原位系統(tǒng)做不到的。另外，為了滿足客戶研究蒸汽類反應(yīng)物對材料的影響的實(shí)驗(yàn)要求，DENS 設(shè)計(jì)了蒸汽反應(yīng)器，能夠單獨(dú)地將蒸氣添加到任何氣體混合物中，并擁有獨(dú)立控制蒸汽參數(shù)的能力，便于開展相對應(yīng)的研究，在原位實(shí)驗(yàn)中提供前所未有的實(shí)驗(yàn)自由度。

02 產(chǎn)品特點(diǎn)

*的環(huán)境控制

1. 動態(tài)混合

的混合閥使您能夠?qū)崟r更換氣體成分，無需等待。

2. 快速切換

在幾秒鐘內(nèi)即可改變氣體環(huán)境。

3. 獨(dú)立控制

實(shí)驗(yàn)范圍廣，可獨(dú)立控制氣體成分、壓力和流量。

*的溫度控制

1. 在氣體環(huán)境下準(zhǔn)確和穩(wěn)定地控制溫度

在氣相動態(tài)條件下，四探針加熱法確保了*準(zhǔn)確的溫度控制。

2. 獲取量熱數(shù)據(jù)

以高靈敏度監(jiān)測吸熱或放熱反應(yīng)期間的熱量變化情況。

高質(zhì)量的數(shù)據(jù)結(jié)果

1. 可預(yù)定義實(shí)驗(yàn)條件

通過使用氣相加熱系統(tǒng) Climate 獲得非原位質(zhì)譜數(shù)據(jù)，在使用 TEM 之前即可設(shè)置定義好*的實(shí)驗(yàn)條件。

2. 高穩(wěn)定性

在靜態(tài)和流動模式下都可達(dá)到 TEM 和 STEM 的原子級分辨率。

3. 優(yōu)異的分析能力

優(yōu)化的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn) EELS 和大立體角 EDS 信息收集。

4. 清潔實(shí)驗(yàn)

樣品桿的模塊化設(shè)計(jì)便于現(xiàn)場更換和清潔所有關(guān)鍵部件。

透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn)，科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現(xiàn)在原子尺度上對材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征成像。此外，TEM 的進(jìn)步也帶動了 CCD 相機(jī)的發(fā)展，這樣，TEM 就同時具有優(yōu)異的空間分辨率和時間分辨率，那么時間和空間的結(jié)合，是否可以讓 TEM 動起來？

眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止?fàn)顟B(tài)下的樣品，但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用*的 MEMS 技術(shù)，設(shè)計(jì)出了的納米芯片，據(jù)此可以向 TEM 中引入動態(tài)外界刺激條件，模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài)，打破壓力的限制，記錄樣品的動態(tài)變化過程，讓 TEM 真正的實(shí)現(xiàn)動起來。

荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)*的、納米尺度的原位顯微工具，其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。

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