Keithley2602

價(jià)格
電議

型號(hào)
2602

品牌
吉時(shí)利

所在地
廣東省 東莞市

更新時(shí)間
2024-03-16 10:16:59

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    !Keithley 2602源表|二手吉時(shí)利2606

    東莞精通電子有限公司
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    本公司長(zhǎng)期現(xiàn)貨租售/回收:頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)源、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、手機(jī)綜合測(cè)試儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、電視信號(hào)發(fā)生器、TV信號(hào)發(fā)生器、數(shù)字示波器、LCR測(cè)試儀、數(shù)字萬(wàn)用表、OTDR、光纖熔接機(jī)、噪聲分析儀、邏輯分析儀、功率計(jì)、輝度計(jì)/亮度計(jì)、等;并承接高頻儀器維修!

    主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):
    一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能:精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器
    接觸檢測(cè)功能確保了高速及準(zhǔn)確的測(cè)量
    每秒10,000個(gè)讀數(shù)和5,500個(gè)源-測(cè)量點(diǎn)記錄到存儲(chǔ)器,提供了更快速的測(cè)試
    內(nèi)置的測(cè)試腳本處理器(TSP?)提供非并行系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試,將I-V測(cè)試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍
    2600系列提供寬動(dòng)態(tài)范圍:1pA到10A,1μV到200V
    TSP-Link?主/從控制架構(gòu)將多臺(tái)2600數(shù)字源表無(wú)縫地整合成一個(gè)系統(tǒng),將其作為一臺(tái)獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制
    免費(fèi)的測(cè)試腳本編輯軟件--Test Script Builder,可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測(cè)試腳本,實(shí)現(xiàn)用戶特定的測(cè)試功能
    免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件,無(wú)需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線,易學(xué)易用
    每個(gè)40W,3A的通道都是獨(dú)立的,從而保證了高度的測(cè)量完整性和配置的靈活性
    業(yè)界高的SMU機(jī)架密度特別適合自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用
     
    2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、極具的方案,適合于DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試?;诔?400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù),2600系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時(shí)間內(nèi) 可同時(shí)提供I和V測(cè)量值 (10,000 讀數(shù)/s),源-測(cè)量掃描速度為200μs每點(diǎn) (5,500 點(diǎn)/s)。這種高速的源-測(cè)量能力加上的自動(dòng)化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。
     

    2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、極具的方案,適合于DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試?;诔?400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù),2600系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時(shí)間內(nèi) 可同時(shí)提供I和V測(cè)量值 (10,000 讀數(shù)/s),源-測(cè)量掃描速度為200μs每點(diǎn) (5,500 點(diǎn)/s)。這種高速的源-測(cè)量能力加上的自動(dòng)化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。
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