Bruker公司的AFM具有多項技術，以其的性能廣泛應用于科研和工業(yè)界各領域

Dimension Edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術，達到了同類產(chǎn)品的高水平，為納米尺度的科學研究提供了高效率、高的強大工具。

應用：

應用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，薄膜性能表征等領域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。

原理：

將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

u 低漂移和低噪音水平

u 閉環(huán)設計--的傳感器設計使Edge的閉環(huán)掃描的噪音水平達到了開環(huán)掃描的水平

u 開放設計的樣品臺適用于各種實驗和不同尺寸的樣品

u 集成化的樣品臺既可以進行直觀的移動也具有很強的可編程功能控制

u 集成可視反饋和預先配置的參數(shù)設定，使初學者也可以簡單連續(xù)地得到級的數(shù)據(jù)

部分選擇項：

參數(shù)：